基本信息
标准名称: | 电子器件中多余物的X射线照相检验方法 |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 电子元件综合 |
ICS分类: | 试验 >> 无损检测 |
发布日期: | 1994-06-24 |
实施日期: | 1994-12-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 8页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元件 电子元件综合 试验 无损检测
标准名称: | 电子器件中多余物的X射线照相检验方法 |
中标分类: | 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 电子元件综合 |
ICS分类: | 试验 >> 无损检测 |
发布日期: | 1994-06-24 |
实施日期: | 1994-12-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 8页 |
没有内容
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